抄録
N-026
機能安全設計におけるリスク分析のための事故事例の分類と活用方法
◎小原俊逸・余宮尚志・大場聡司（東芝）
IEC 61508 は半導体システムを含む製品の機能安全を対象とした国際安全規格である．同規格が提示するとおり，製品の安全性を確保するには潜在するリスクを設計時に分析する必要がある．リスク分析では過去の事例を参考にすることが望ましいとされている．しかしながら，機能安全設計の観点でどのような事例をどう参考にすべきかといった議論はあまりされていない．本稿では機能安全設計におけるリスク分析を効率よく実施するための，事故事例の分類と活用方法を提案する．提案手法により，製品の安全性を損なわずに安全機能の設計コストを低減することが期待できる．